臺式X熒光光譜儀是實驗室常用的儀器，在工作原理中，熒光強度的變化會直接導致樣品的測試結果，因為它本身就是利用X熒光強度的大小來判斷元素含量。另外，影響X熒光光譜儀的測試結果還有其他的誤差來源嗎？

首先我們要講的是一個常見的關于影響臺式X熒光光譜儀熒光強度的因素，這個是來源于樣品本身。它就是樣品的顆粒大小。

純物質的熒光強度隨顆粒的減小而zeng大，在多元素體系中，已經證明一些元素的強度與吸收和增qiang效應有關，這些效應可以引起某些元素的強度增加和另一些元素的強度減小。這些都是會直接影響到zui后的測量結果。顆粒的大小和強度的變化可以總結成以下：

強度與研磨時間的關系：

①粒度的減小，引起鐵、硫、鉀的強度減小，而使鈣、硅的強度增加。

②隨著粒度減小至某一點，強度趨于穩(wěn)定。

③較低原子序數的元素的強度隨粒度的減小有較大的變化。

臺式X熒光光譜儀測試位

另外，影響X熒光分析的其他誤差來源。

1.采樣誤差：非均質材料、樣品的代表性。

2.樣品的制備：制樣技術的穩(wěn)定性、 產生均勻樣品的技術。

3.不適當的標樣：待測樣品是否在標樣的組成范圍內、標樣元素測定值的準確度、標樣與樣品的穩(wěn)定性。

4.儀器誤差：計數的統(tǒng)計誤差、樣品的位置、靈敏度和漂移、 重現性。

5.不適當的定量數學模型：不正確的算法、元素間的干擾效應未經校正顆粒效應。?

以上就是這次要說的內容，希望對大家有幫助。創(chuàng)想儀器GLMY，為您帶來zui新的資訊。