光電直讀光譜儀分析時(shí)對(duì)被檢測(cè)樣品有什么要求？應(yīng)該如何制樣？下面創(chuàng)想儀器GLMY小編就給大家做簡(jiǎn)單說(shuō)明。

1.關(guān)于制樣

1）樣品表面必須平整，可以完全蓋住激發(fā)孔隙；

2）為了獲得準(zhǔn)確的分析結(jié)果，要求樣品：不能有沙眼、小孔、偏析等缺陷；

3）樣品表面必須清潔、不得污染，不能帶有其他物質(zhì)，也不能用手摸；制樣要求：一般情況下，鋁、銅等有色金屬基體的試樣需要車或銑，鐵、鎳等黑色金屬基體的試樣可以磨制（鑄態(tài)試樣需要先切割）。要求磨制后的樣品表面平整潔凈、紋路清晰、溫度適宜。另外，不同基體的樣品盡量不要在同一砂紙制樣。

2.關(guān)于鑄鐵白口化

1）不要澆鑄過(guò)快，避免偏析；

2）一般多用樣模澆鑄，樣模盡量取直徑35-40mm，厚6-8mm，這樣試樣冷卻快，白口好，待鐵水澆后30秒左右取出，開(kāi)水澆再冷水冷。

3）盡量選取砂模，減少縮孔和夾雜

關(guān)于直讀光譜儀標(biāo)樣激發(fā)部位的選擇

3、關(guān)于激發(fā)部位的選擇

試樣制備好后在什么地方激發(fā)*合適。一般選在距離試樣中心三分之二的圓周部位。（請(qǐng)參閱《分析化學(xué)實(shí)驗(yàn)室手冊(cè)》）如鋼鐵試樣在模具中凝固以后會(huì)形成三個(gè)晶區(qū)即精細(xì)粒區(qū)、柱狀晶區(qū)和等軸晶區(qū)。試樣*外層是精細(xì)粒區(qū)，該區(qū)域晶粒雜亂且區(qū)域較?。ㄒ话阒挥袃扇撩祝辉嚇又行膮^(qū)域是等軸晶區(qū)，就晶體本身來(lái)說(shuō)較適合光譜分析，但是該區(qū)域多縮孔、砂眼、夾雜等缺陷；所以距離試樣中心三分之二的圓周是*理想的分析區(qū)域，該區(qū)域多為柱狀晶，宏觀偏析也較小，*適合光譜分析。（關(guān)于宏觀偏析和微觀偏析還和易偏析元素含量有關(guān)?？梢詤㈤喴苯鹣嚓P(guān)書籍。）

另外，鑄態(tài)試樣凝固時(shí)間越短越有利于分析，以避免偏析的出現(xiàn)。

4、線材、棒材的檢測(cè)

線材、棒材的檢測(cè)可不尅使用直讀光譜儀呢？像這種被檢樣品，就必須使用特殊的小樣品夾具。為滿足分析結(jié)果的要求，不同的樣品需要配備不同種類的夾具。目前很多廠家的直讀光譜儀器可以進(jìn)行小樣品的測(cè)定。